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exemplo de lista de simbolos e abreviaturas na unha
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\chapter*{Lista de Abreviaturas} | |
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\begin{tabular}{ll} | |
2D & Estrutura Bidimensional.\\ | |
\\ | |
3D & Estrutura Tridimensional.\\ | |
\\ | |
B & Região de corpo (\emph{Body}).\\ | |
\\ | |
D & Região de dreno (\emph{Drain}).\\ | |
\\ | |
DG & Transistor de porta dupla (\emph{Double Gate}).\\ | |
\\ | |
FDSOI & SOI Totalmente depletado (\emph{Fully Depleted SOI}).\\ | |
\\ | |
FET & Transistor de Efeito de Campo (\emph{Field-Effect Transistor}).\\ | |
\\ | |
G & Região de porta (\emph{Gate}).\\ | |
\\ | |
GAA & Transistor de porta circundante (\emph{Gate-all-around}).\\ | |
\\ | |
H & Altura do canal do transistor.\\ | |
\\ | |
IGFET &\emph{Insulated Gate Field Effect Transistor}\\ | |
\\ | |
L & Comprimento do canal do transistor.\\ | |
\\ | |
MOSFET & Transistor de Efeito de Campo Metal-Óxido-Semicondutor\\ | |
& (\emph{Metal-Oxide-Silicon Field Effect Transistor}).\\ | |
\end{tabular} | |
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\begin{tabular}{ll} | |
nMOSFET & Transistor MOSFET do tipo n.\\ | |
\\ | |
PDSOI & SOI Parcialmente depletado (\emph{Partially Depleted SOI}).\\ | |
\\ | |
S & Região de fonte (\emph{Source}).\\ | |
\\ | |
SOI & Tecnologia do tipo Silício sobre Isolante (\emph{Silicon-on-insulator Transistor}).\\ | |
\\ | |
W & Largura do canal do transistor.\\ | |
\end{tabular} | |
\chapter*{Lista de Símbolos} | |
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\begin{tabular}{ll} | |
$\alpha$ & Parâmetro resultante do acoplamento capacitivo do transistor MOS.\\ | |
\\ | |
$\epsilon_{Si}$ & Permissividade do silício [$3,45x10^{-13}$ F/cm].\\ | |
\\ | |
$\epsilon_{OX}$ & Permissividade do óxido [$1,06x10^{-12}$ F/cm].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{F}$ & Potencial de Fermi [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{S}$ & Potencial de superfície [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{S1}$ & Potencial da primeira interface [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{S2}$ & Potencial da segunda interface [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{MS}$ & Diferença de potencial entre o metal e o silício [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{MS1}$ & Diferença de potencial entre o metal e o silício na primeira interface [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{MS2}$ & Diferença de potencial entre o metal e o silício na segunda interface [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{OX1}$ & Queda de potencial no óxido na primeira interface do transistor [V].\\ | |
\\ | |
$\Phi_{OX2}$ & Queda de potencial no óxido na segunda interface do transistor [V].\\ | |
\\ | |
$\rho$ & Densidade de cargas por unidade de volume [C/$cm^{3}$].\\ | |
\\ | |
$C_{D}$ & Capacitância da região de depleção [F/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$C_{OX}$ & Capacitância do óxido de porta [F/$cm^2$].\\ | |
\end{tabular} | |
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\begin{tabular}{ll} | |
$C_{OX1}$ & Capacitância da primeira interface [F/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$C_{OX2}$ & Capacitância da primeira interface [F/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$C_{Si}$ & Capacitância da camada de silício [F/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$E(x)$ & Campo elétrico na superfície do silício [V/cm].\\ | |
\\ | |
$E_{s1}$ & Campo elétrico na primeira interface [V/cm].\\ | |
\\ | |
$E_{s2}$ & Campo elétrico na segunda interface [V/cm].\\ | |
\\ | |
$g_{m}$ & Transcondutância [$\Omega^{-1}$].\\ | |
\\ | |
$H$ & Altura do canal [nm].\\ | |
\\ | |
$I_{d}$ & Corrente de dreno [A].\\ | |
\\ | |
$k$ & Constante de Boltzman [$1,38 x 10^{-23}$ J/K].\\ | |
\\ | |
$L$ & Comprimento do canal [nm].\\ | |
\\ | |
$n$ & Fator de corpo.\\ | |
\\ | |
$N_a$ & Concentração de portadores no canal [$cm^{-3}$].\\ | |
\\ | |
$n_i$ & Concentração intrínseca de portadores [$cm^{-3}$].\\ | |
\\ | |
$q$ & Carga elementar do elétron [$1,6 x 10^{-19}$ C].\\ | |
\\ | |
$Q_{OX}$ & Quantidade de cargas no óxido [C/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$Q_{OX1}$ & Quantidade de cargas fixas na interface $Si/SiO_{2}$ [C/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$Q_{s2}$ & Quantidade de cargas para segunda interface em inversão [C/$cm^2$].\\ | |
\end{tabular} | |
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\begin{tabular}{ll} | |
$Q_{inv1}$ & Quantidade de cargas de inversão na primeira interface [C/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$Q_{inv2}$ & Quantidade de cargas de inversão na segunda interface [C/$cm^2$].\\ | |
\\ | |
$R$ & Raio de curvatura do canto superior do canal do transistor [nm] \\ | |
\\ | |
$S$ & Inclinação de Sublimiar [mV/déc].\\ | |
\\ | |
$T$ & Temperatura absoluta [K].\\ | |
\\ | |
$t_{Si}$ & Espessura da camada de silício [nm].\\ | |
\\ | |
$t_{BOX}$ & Espessura do óxido enterrado [nm].\\ | |
\\ | |
$t_{OX}$ & Espessura da camada de óxido [nm].\\ | |
\\ | |
$V_{D}$ & Tensão de dreno [V].\\ | |
\\ | |
$V_{G}$ & Tensão de porta [V].\\ | |
\\ | |
$V_{G1}$ & Tensão de porta [V].\\ | |
\\ | |
$V_{G2}$ & Tensão de substrato [V].\\ | |
\\ | |
$V_{TH}$ & Tensão de Limiar [V].\\ | |
\\ | |
$V_{FB}$ & Tensão de banda plana (\emph{flatband}) [V].\\ | |
\\ | |
$x_{dmax}$ & Espessura da camada depletada a partir do óxido de porta [$\mu$m].\\ | |
\\ | |
$W$ & Largura do canal [nm].\\ | |
\end{tabular} |
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